鍵德測試測量系統(tǒng)（東莞）有限公司成立于2017年，旗下品牌有KeyFactor，總部設(shè)立在東莞市，在深圳、香港和美國開設(shè)了分公司。公司深度耕耘半導體電學表征參數(shù)量測探針臺7年，專注于為用戶提供先進且數(shù)量豐富的手動探針臺方案。公司的產(chǎn)品括：真空高低溫探針臺、晶圓探針臺、雙面探針臺、PCB探針臺、高溫探針臺、精密探針座和探針臺系統(tǒng)配件。另外，鍵德公司也提供精密機械和真空系統(tǒng)定制服務。公司產(chǎn)品可應用于：DC測試、射頻測試、負載牽引測試、磁場測試、光電流測試以及超導測試等先進的半導體電學表征測試。公司十分重視為用戶提供優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務體驗：在東莞設(shè)有EFA實驗室，方便用戶直觀地測試和驗證我司的產(chǎn)品性能。公司目前擁有半導體參數(shù)分析儀、源表、示波器、信號發(fā)生器、精密萬用表及開關(guān)電源等常用的量測型精密儀表。

公司旗下產(chǎn)品解決方案包括

典型應用

I-V/C-V測試；RF/mmW測試（DC~1100GHz）；材料特性分析；失效分析；電化學；功率半導體器件特性分析與測試；功率器件可靠性研究；器件檢測與質(zhì)量認證。

器件應用

MOSFET, BJT, 晶體管；非易失性存儲設(shè)備；電阻率系數(shù)和霍爾效應測量；NBTI/PBTI；III-V族器件；納米器件；二極管和pn結(jié)；太陽能電池；傳感器；MEMS器件；LED和OLED；GaN、SiC、LDMOS以及其它器件特性分析。

定制設(shè)備

精密的機械系統(tǒng)：包括手動和電動控制的系統(tǒng)或機構(gòu)。

精密的真空系統(tǒng)：包括常規(guī)真空腔（10^-6mbar）、高真空腔（10^-6mbar）和真空管路。

高精度控溫樣品臺，可定做RT~高溫(≤800℃)，RT~-40℃，-190℃~300等配置。

產(chǎn)品系列

CRYOPS真空高低溫探針臺

2至8英寸的真空高低溫探針臺，用于材料及前端器件的非破壞性電性分析。

KeyFactor的真空高低溫探針臺可提供高真空及高低溫測度環(huán)境。可選溫度范圍為4k至675k，用戶可根據(jù)實際的測試選擇。我們也為用戶提供定制化的測試測量方案，滿足用戶特殊的測試要求。

CryoPS常用被應用于如下測試中：不同溫度下的I-V/C-V測試，微波測試，光電測試，變磁環(huán)境下magneto-transport表征測試，理解載流電子濃度的霍爾測試以及其它材料測試等等。

IPS常規(guī)探針臺

4至8英寸的高性價比探針臺（晶圓探針臺），模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計，可無縫升級，未來的測試要求可在現(xiàn)有的設(shè)備升級滿足。

探針臺屬于昂貴且耐用的科研設(shè)備。許多用戶最初采購探針臺時，僅考慮了現(xiàn)有的測試測量要求及相應的預算，因此最開始配置的探針臺通常僅能滿足某一測試目的。隨著研究的深入，用戶需要應對不同的測試時，卻發(fā)現(xiàn)原來采購的探針臺已無法應付現(xiàn)有的測試。IPS探針臺從設(shè)計之初便考慮了客戶的潛在需求。模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計及獨創(chuàng)的KitStart技術(shù)，讓用戶可在測試測量應用要求變化時，可進行無縫升級。用戶僅需要從多種配置中進行簡單選型即可升級，無須對探針臺進行定制性的修改。便利的升級環(huán)境，也讓用在開始時僅配置滿足基礎(chǔ)測試要求的探針臺系統(tǒng)，節(jié)約設(shè)備預算。

SimplePS高性價比小型探針臺

SimplePS是專為較低預算而研發(fā)的高可靠性探針臺系統(tǒng)。

預算及產(chǎn)品品質(zhì)一直是困擾用戶的兩個難題。如今，SimplePS測量套裝的出現(xiàn)，該問題將迎刃而解。該套裝在考慮預算要求的同時，仍然為用戶提供了高品質(zhì)的產(chǎn)品配置：高穩(wěn)定性、高可靠性的的SimplePS機臺、DTP100定位器、S10系列探針夾具及其它相關(guān)的配件。利用KeyFactor完善的KitStart技術(shù)，SimplePS仍然為用戶提供完整的測試測量解決方案。隨著用戶應用需求的變化，我們?nèi)匀荒芨鶕?jù)客戶的測試應用對SimplePS作相應的產(chǎn)品升級。

全鋼材料制作的底座，使SimplePS在較小尺寸外形下，仍然保持著優(yōu)秀的穩(wěn)定性。小體積，低預算的產(chǎn)品特點，用戶可根據(jù)需求配置多套SimplePS探針臺，滿足實驗和教學的多方面需求。

HAPS高性能探針臺

8至12英寸的精密型測試測量探針臺。為了在先進的半導體測試測量中獲得可靠的測試結(jié)果，其中的關(guān)鍵之一便是探針臺本身擁有超高的機械精度和穩(wěn)性性。HPAS便是為了滿足用戶對于精準和可靠性和超高要求研發(fā)的探針臺系統(tǒng)。HAPS底座由一塊表面平整精度小于5微米的花崗巖平臺構(gòu)成。該設(shè)計不但為探針臺提供了超高的穩(wěn)定性，還為精度的移動定位提供了高精度的基臺。載物臺移動基座配置了精密的微分頭，可進行分辨率的移動定位操作。同時，由于配置了高精度的空氣軸承底座，X-Y的初步定位可快速順滑地進行，操作效率不會受制于精密的微分頭。由于擁有超高的精度及穩(wěn)定性，HAPS常被應用于毫米波表征測試、負載牽引測試，亞微米級探針測試等測試測量應用中。

探針臺系統(tǒng)配件

KeyFactor可提供非常豐富的測試測量用配件：DC探針、RF／ mmW測試探針、探針夾具，加熱臺，溫控器，電纜組件，轉(zhuǎn)接頭，屏蔽箱/暗箱，防震臺，顯微鏡、攝像頭及其配件等等。