一、明確測試需求
1、晶圓或器件尺寸:確定需要測試的晶圓或器件的最大尺寸,以及是否需要測試破片或單顆芯片,同時明確最小的單顆芯片尺寸。
2、測試精度要求:了解所需的探針臺機械精度,包括X/Y軸的移動行程、移動分辨率、精度和重復(fù)性。這些參數(shù)將直接影響測試的準確性和可靠性。
3、電極尺寸和類型:明確點測樣品的電極尺寸,例如是100μm×100μm或60μm×60μm的pad,還是FIB制作的mini
pad,或者ic內(nèi)部的metal線路。
4、探針數(shù)量:確定是否需要多個探針同時點測,以及是否會用到探針卡測試。
二、考慮顯微鏡和光學需求
1、顯微鏡分辨率:選擇具有適當分辨率的光學顯微鏡,以滿足對測試樣品的精細觀察需求。
2、特殊光學需求:如果需要進行LC液晶熱點偵測等特殊測試,需要添加偏光片等光學元件。
三、考慮電氣測試需求
1、電流要求:了解探針點測時對電流的要求,例如是否能夠達到100fA或以下。
2、低電容要求:確定是否需要低電容測試,以及電容要求是否能夠達到0.1pF或更低。
3、射頻需求:如果需要進行射頻測試,需要選擇具有射頻測試功能的探針臺。
四、考慮測試環(huán)境需求
1、溫度控制:確定測試環(huán)境是否需要加熱或降溫,以及是否需要密閉腔體來保持測試環(huán)境的穩(wěn)定性。
2、防震需求:根據(jù)測試精度的要求,考慮是否需要防震桌來減少外界振動對測試的影響。
五、考慮其他因素
1、chuck的漏電要求:了解所需的探針臺對chuck的漏電要求,以及是否需要添加低阻抗chuck來提高測試精度。
2、品牌和服務(wù):選擇具有良好口碑和售后服務(wù)的品牌,以確保設(shè)備的可靠性和長期穩(wěn)定運行。同時,考慮品牌是否提供定制化服務(wù),以滿足特定的測試需求。
綜上所述,挑選適合的國產(chǎn)探針臺需要綜合考慮測試需求、顯微鏡和光學需求、電氣測試需求、測試環(huán)境需求以及其他因素。通過仔細評估這些因素,可以選擇出最適合自己測試需求的探針臺設(shè)備。